1. Electron Beam Analysis of Materials
پدیدآورنده : by M.H. Loretto.
کتابخانه: مرکز و کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان‌های اروپایی (قم)
موضوع : Electron beams -- Industrial applications.,Materials -- Analysis.,Science (General)
رده :
TA417
.
23
B964
1984
2. Electron microprobe analysis and scanning electron microscopy in geology
پدیدآورنده : Reed, S. J. B.
موضوع : ، Petrofabric analysis,، electron prob microanalysis,، scaning electron microscopy
۲ نسخه از این کتاب در ۲ کتابخانه موجود است.
3. High Velocity Microparticles in Space :
پدیدآورنده : Anatoly Belous, Vitali Saladukha and Siarhei Shvedau.
کتابخانه: مرکز و کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان‌های اروپایی (قم)
موضوع : Radiation-- Safety measures.,Space vehicles-- Electronic equipment.,Space vehicles-- Materials.,Radiation-- Safety measures.,Space vehicles-- Electronic equipment.,Space vehicles-- Materials.,TECHNOLOGY & ENGINEERING-- Engineering (General)
رده :
TL953
4. Micromorphology of Soils
پدیدآورنده : by E.A. Fitzpatrick.
کتابخانه: مرکز و کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان‌های اروپایی (قم)
موضوع : Science (General)
رده :
S593
.
2
B943
1984
5. Practical scanning electron microscopy
پدیدآورنده : / Joseph I. Goldstein
کتابخانه: کتابخانه و مرکز یادگیری دانشکده پزشکی (تهران)
موضوع : Scanning electron microscope,Microprobe analysis
رده :
QH212
.
S3G64
1975
6. Practical scanning electron microscopy : electron and ion microprobe analysis
پدیدآورنده : Goldstein, Joseph
کتابخانه: كتابخانه مركزی دانشگاه صنعتی شریف (تهران)
موضوع : ، Scanning electron microscopy,، Microprobe analysis
رده :
QH
212
.
S3
.
G64
7. Practical scanning electron microscopy : electron and ion microprobe analysis
پدیدآورنده : Goldstein, Joseph
کتابخانه: كتابخانه پردیس علوم دانشگاه تهران (تهران)
موضوع : ، Scanning electron microscopy,، Microprobe analysis
رده :
QH
212
.
S3
G64
8. Practical scanning electron microscopy: electron and ion microprobe analysis
پدیدآورنده : edited by Joseph I. Goldstein and Harvey Yakowitz; forward by T. E. Everhart
موضوع : Scanning electron microscopy,Microprobe analysis
۲ نسخه از این کتاب در ۲ کتابخانه موجود است.
9. Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS III
پدیدآورنده : edited by A. Benninghoven, J. Giber, J. László, M. Riedel, H. W. Werner.
کتابخانه: مرکز و کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان‌های اروپایی (قم)
موضوع : Physics.
10. Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS IV :
پدیدآورنده : Vitalii I Goldanskii
کتابخانه: مرکز و کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان‌های اروپایی (قم)
موضوع :
11. Stereology and quantitative metallography; a symposium presented at the seventy-fourth annual meeting, American Society for Testing and Materials, Atlantic City, N.J., 27 June-2 July, 1971
پدیدآورنده :
موضوع : ، Metallography-- Congresses,، Stereology-- Congresses
۲ نسخه از این کتاب در ۲ کتابخانه موجود است.
12. آناليز الکترون ميکروپروب و ميکروسکوپ الکتروني روبشي در زمين‌شناسي
پدیدآورنده : / [ اس.ج. بي ريد],عنوان اصلي: 2005 Electron microprobe analysis and scanning electron microscopy in geology, 2nd. ed, c,ريد,Reed
کتابخانه: كتابخانه مركزی آستان قدس رضوی (ع) - گردش و امانت آقايان (خراسان رضوی)
موضوع : سنگ‌شناسي ساختاري,تجزيه ريزکاوندي الکتروني,ميکروسکوپي الکتروني روبشي
رده :
۵۵۲
/
۸
ر
۹۴۶
آ
